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Öffentliche Vergabe (Bekanntmachungsservice) · 65e599f2-a5ee-4455-ac73-86bdfa416034

Waferprober / Frameprober - PR1252431-2270-W

Eckdaten (Key Facts)

StatusVergeben
Geschätzter WertWert nicht veröffentlicht
AngebotsfristFrist nicht veröffentlicht
Veröffentlicht10. Nov. 2026
AuftraggeberFraunhofer-Gesellschaft, Einkauf B12
LandDeutschland · München
CPV-Code31000000
QuelleÖffentliche Vergabe (Bekanntmachungsservice) ↗
Amtliche Bekanntmachung öffnen
Status
Vergeben
Geschätzter Wert
Wert nicht veröffentlicht
Angebotsfrist
Frist nicht veröffentlicht
Veröffentlicht
10. Nov. 2026
Auftraggeber
Fraunhofer-Gesellschaft, Einkauf B12
Land
Deutschland
CPV-Code
31000000
Quelle
Öffentliche Vergabe (Bekanntmachungsservice)

Vergabeergebnis & aktuelle Alternativen

Die Angebotsfrist ist beendet. Die Originalbekanntmachung bleibt als Referenz verfügbar.

Auftragnehmer / GewinnerRegisternummer / LEILandVergebener VertragswertZuschlagsdatum
Accretech
Landsbergerstrasse 396, München, 81241		DE-VAT: DE151305933DeutschlandWert nicht veröffentlicht9. Nov. 2026

Offene Ausschreibungen in dieser CPV-Abteilung (CPV 31000000 · CPV × Land Zuschlagsmatrix)

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Poland – Lamps and light fittings – Modernizacja oświetlenia zewnętrznego na terenie Gmin: Turek UM, Turek UG, Sompolno, Babiak, Gołuchów, Jarocin, Kotlin, Krotoszyn, Nowe Skalmierzyce (Zadanie dofinansowane przez Wojewódzki Fundusz Ochrony Środowiska i Gospodarki Wodnej w Poznaniu)

Auftraggeber: EOŚ sp. z o.o.

Wert nicht veröffentlicht

Frist läuft bald ab

Angebotsfrist: 19. Nov. 2026, 09:00 UTC

CPV: 31520000 · 45316110 · 34928510

Bekanntmachung ansehen

Geprüft:

Die amtliche Bekanntmachung ist maßgeblich. Status und Bedingungen können sich nach der Erfassung ändern.

Beschreibung

Waferprober / Frameprober

Lose

  1. Waferprober / Frameprober - PR1252431-2270-W

    This specification describes the requirements for a wafer prober system to be used for post-silicon verification, characterization and functional test of integrated circuits and chiplets at Fraunhofer EMFT. The wafer prober system must
    be able to handle 200mm and 300mm wafers and in addition wafers mounted on a dicing frame (frame prober function). This allows a very flexible usage for different analysis and test situations. The wafer prober will be coupled with
    an automated test system (ATE).

Öffentliche Geschäftskontakte

Einkauf Wissenschaftliche Geräte

einkauf@zv.fraunhofer.de

+49891205-0

Geprüft: